由单平面电场确定 M2 光束质量的方法
光学
2024-01-01 v1
摘要
激光光束质量是工业与科学中的关键参数。然而，最常用的度量 M2 参数需要大量强度空间分布来确定。这对于建模光子器件（如超透镜和薄膜叠层）对 M2 的影响尤为不便，因为模型通常只输出单一电场空间分布。该分布也常在实验中通过例如 Shack-Hartmann 传感器、剪切板或离轴全息术确定。我们提出并检验了一种由光束沿传播方向任意选定横截面上的单一电场空间分布计算 M2 的显式方法的有效性与局限性。
引用
@article{arxiv.2305.07724,
title = {A method to determine the M2 beam quality from the electric field in a single plane},
author = {M. H. Griessmann and A. C. Martinez-Becerril and J. S. Lundeen},
journal= {arXiv preprint arXiv:2305.07724},
year = {2024}
}