用于识别 X 射线瞬态中潜伏黑洞的 Hα 指标

X 射线瞬态中的潜伏黑洞(BH)可通过来自静止吸积盘的宽 Hα emission 线来识别。不幸的是，短周期的类星体(CV)也会产生宽 Hα 线，尤其是在高倾角观察时，因此是主要的污染源。本文比较了 20 个静止 BH 瞬态和 354 个 CV(其中 305 来自 SDSS I 到 IV)中 Hα 线的全宽半高值(FWHM)和当量宽度(EW)，并发现：(1) FWHM 和 EW 值随 Porb 减小，且(2)对于给定的 Porb，两者在 BH 瞬态中通常大于在 CV 中。我们还整理了 17 个低质量伴星在 BH 瞬态中的光谱类型，并推导出经验的 Porb-Teff 标定。使用这一标定，我们得出结论，由于 Hα 通量被赠星连续光稀释所致，EW 随 Porb 减小。对于 Porb>~0.2 d 的情况，赠星连续光占据 r 带光谱。较短周期时，盘对总 r 带光通量的较大贡献引入了显著散点，由于库仑面倾角变化导致盘投影面积可见性变化。相反，观察到的较大 EW 可解释为其极端质量比(限制伴星对总光通量的贡献)以及在 Porb<~0.085 d 时不存在白矢星成分的事实。最后，我们提出一种基于 Hα FWHM 和 EW 信息的暂定指标，并给出最优的分割标准，以在样本中选择约 80% 的 BH X 射线瞬态，同时拒绝约 78% 的 CV。这种指标结合其他多频率诊断工具，可帮助在盲目大规模调查中（如 HαWKs 及其前哨项目 Mini-HaWKs）检测新的潜伏 BH X 射线瞬态。