用于扫描透射电子显微镜的快速图像模拟算法
材料科学
2017-04-24 v3 计算物理
摘要
对于具有真实尺寸的样品，在原子分辨率下进行扫描透射电子显微镜的图像模拟使用现有模拟算法可能需要非常大的计算时间。我们提出一种名为PRISM的新算法，它结合了两种最常用算法即Bloch波法和多重切片法的特征。PRISM使用傅里叶插值因子 ，对于原子分辨率模拟其典型值为4-20。我们表明在许多情况下，与多重切片模拟相比，PRISM可提供随 缩放的加速比，且精度损失可忽略。我们通过在非晶碳衬底上的晶体纳米颗粒的大规模扫描透射电子显微镜图像模拟证明了该方法的实用性。
引用
@article{arxiv.1702.01904,
title = {A Fast Image Simulation Algorithm for Scanning Transmission Electron Microscopy},
author = {Colin Ophus},
journal= {arXiv preprint arXiv:1702.01904},
year = {2017}
}
备注
10 pages, 5 figures