一种用于分布式小型嵌入式 SRAM 的快速诊断方案

本文提出了一种旨在减少分布式小型嵌入式 SRAM（e-SRAM）诊断时间的诊断方案。该方案改进了 [A parallel built-in self-diagnostic method for embedded memory buffers, A parallel built-in self-diagnostic method for embedded memory arrays] 中提出的方案。改进主要体现在两个方面。一方面，现在考虑并执行了耗时的数据保持故障（DRF）诊断，这是 [A parallel built-in self-diagnostic method for embedded memory buffers, A parallel built-in self-diagnostic method for embedded memory arrays] 中的诊断架构所忽略的，并通过一种称为“无写恢复测试模式（NWRTM）”的 DFT 技术来实现。另一方面，利用由串行转并行转换器（SPC）和并行转串行转换器（PSC）组成的对来取代双向串行接口，以避免串行故障屏蔽和依赖缺陷率的诊断问题。评估结果表明，与 [A parallel built-in self-diagnostic method for embedded memory buffers, A parallel built-in self-diagnostic method for embedded memory arrays] 中获得的结果相比，所提出的诊断方案实现了更高的诊断覆盖率并减少了诊断时间，且额外的面积成本可忽略不计。