一种用于解析架上绘画宏X射线荧光数据的快速自动解卷积方法

宏X射线荧光（MA-XRF）扫描作为一套非侵入性成像技术之一，正被遗产科学领域的研究人员越来越广泛地用于分析架上绘画。为生成各化学元素分布图而对所得MA-XRF数据立方体进行处理的过程称为MA-XRF解卷积。尽管已有若干提出的MA-XRF解卷积方法，但它们需要用户一定程度的手动干预，这会影响最终结果。当前最先进的AFRID方法可在无用户输入的情况下自动解卷积数据立方体，但其处理时间长且未利用空间依赖性。本文提出两种快速自动解卷积（FAD）方法，基于ADMM（交替方向乘子法）和FISTA（快速迭代收缩阈值算法），用于处理由架上绘画采集的MA-XRF数据立方体。所提FAD方法不仅自动分析数据立方体并生成考虑空间依赖性的高质量元素分布图，还显著缩短了运行时间。基于伦敦国家美术馆两幅架上绘画采集的MA-XRF数据立方体所得结果验证了所提FAD方法的性能。