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$K_{\ell4}$ 衰变的色散处理

高能物理 - 唯象学 2015-09-09 v1 高能物理 - 实验

摘要

K4K_{\ell4} 衰变具有多方面的研究意义:它们允许精确测量 ππ\pi\pi 散射长度;提供了确定手征微扰论 (ChPT) 某些低能常数的最佳来源;其中一个形状因子直接与手征反常相关,可在此处进行测量。我们提出了 K4K_{\ell4} 衰变的色散处理方法,该方法提供了 ππ\pi\piKπK\pi 重散射效应的重求和。色散关系的自由参数拟合自高统计量实验 E865 和 NA48/2 的数据。与次领头阶 (NLO) 和次次领头阶 (NNLO) 的 ChPT 相匹配,使我们能够确定低能常数 L1rL_1^rL2rL_2^rL3rL_3^r。利用最近发表的 NA48/2 数据,还可以确定低能常数 L9rL_9^r。与纯手征处理相比,色散关系描述了其中一个形状因子观测到的曲率,我们将此理解为超出 NNLO 的重散射效应。

关键词

引用

@article{arxiv.1501.05627,
  title  = {A Dispersive Treatment of $K_{\ell4}$ Decays},
  author = {Gilberto Colangelo and Emilie Passemar and Peter Stoffer},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1501.05627},
  year   = {2015}
}

备注

86 pages, 21 figures. Draws on and extends arXiv:1412.5171 [hep-ph] and arXiv:1209.0755 [hep-ph]