$^4$He 样品探针用于微波与直流输运联合测量
超导电性
2017-05-01 v1
摘要
低温下微波与直流电子输运联合测量是许多研究领域中有价值的实验方法。特别是当样品为常规超导体时，典型实验需要氦温区、宽磁场范围以及使用同轴线与常规直流布线的结合。我们报道了一个定制低温样品探针的总体设计特征和微波性能，其测量带宽经测试从直流到 20 GHz。该探针配备 6 根同轴电缆、一个加热器、霍尔与温度传感器，可装入 d32 mm 的轴杆中。我们展示了我们的装置，分析其微波性能，并描述了该系统实现的两个代表性实验。所提出的装置对于系统研究纳米图案化超导体在直流与微波联合刺激下的涡旋动力学直流与交流响应至关重要。此外，它对于研究广泛的一类非线性随机系统也具有价值，这类系统需要在宽温度范围内直流与高频交流驱动的联合作用。
引用
@article{arxiv.1504.01936,
title = {$^4$He sample probe for combined microwave and dc transport measurements},
author = {Oleksandr V. Dobrovolskiy and Jörg Franke and Michael Huth},
journal= {arXiv preprint arXiv:1504.01936},
year = {2017}
}