巡游反铁磁体USb$_2$中的$^{235}$U核弛豫率

本文报道了零场下巡游反铁磁体USb$_2$中$^{235}$U核自旋-晶格（$T_1^{-1}$）与自旋-自旋（$T_2^{-1}$）弛豫率随温度变化的函数关系。$^{235}$U NMR所必需的强射频脉冲引起的加热效应导致了核磁化强度的异常复杂热恢复，这使得无法直接测量$T_1^{-1}$。然而，通过实施一种间接方法，我们成功提取了$^{235}$U的$T_1^{-1}$。我们发现$^{235}$U和$^{121}$Sb的$T_1^{-1}$温度依赖性均遵循幂律（$\propto T^n$），指数$n=0.3$较小，表明相同的弛豫机制主导了格位核与配体核，但在5 K处观察到了异常，这可能是由于Sb位上的转移超精细耦合发生了变化。