Mrk 335 的 X 射线/UVOIR 频率分辨时间滞后分析揭示吸积盘再处理

UV 与光学连续谱反响映射是探测吸积盘与内区宽线区的有力手段。然而，近期在 X 射线、UV 与光学中的反响映射观测发现了系统性长于标准吸积盘再处理图像预期的滞后。迄今最大的偏差最近在 Mrk 335 中被报道，其 UV/光学滞后长达预期的 12 倍。在此，我们对 Mrk 335 进行频率分辨时间滞后分析，使用高斯过程处理不规则采样。我们首次将傅里叶频率分辨滞后直接与对原始及去趋势光变曲线采用流行的插值互相关函数(ICCF)方法所得滞后进行比较。我们表明，当聚焦于短时标变率时，傅里叶滞后恢复了预期的吸积盘反响滞后。这表明长时标上存在独立的变率成分。若该独立成分被建模为来自吸积盘之外另一区域的反响，我们限制其距中心黑洞的尺寸尺度约为 15 光日。这与由 H$\beta$ 反响滞后推断的宽线区大小一致。我们还发现了软 X 射线滞后的初步证据，并提出其可能源于硬 X 射线日冕与主导 2 keV 以下软 X 射线谱的遥远光电离气体间的光行时延迟。