磁性范德瓦耳斯材料 Fe$_3$GeTe$_2$、CrI$_3$ 和 CrGeTe$_3$ 中的 X 射线谱：第一性原理研究
材料科学
2021-04-14 v1
摘要
利用密度泛函理论（DFT）方法，我们计算了 FeGeTe、CrI 和 CrGeTe 块体及薄膜中的 X 射线吸收谱（XAS）和 X 射线圆二色性（XMCD）谱。采用 DFT+ 方法以更好地处理过渡金属 3 电子的关联效应。我们讨论了态密度、径向矩阵元与相应谱之间的关系。通过将计算谱与先前测量的谱进行比较，我们讨论了 DFT+ 方法描述这些材料电子结构的可靠性，并确定了相应的最优 和 参数。
引用
@article{arxiv.2010.15880,
title = {X-ray spectra in magnetic van der Waals materials Fe$_3$GeTe$_2$, CrI$_3$, and CrGeTe$_3$: a first-principles study},
author = {Y. Lee and V. N. Antonov and B. N. Harmon and Liqin Ke},
journal= {arXiv preprint arXiv:2010.15880},
year = {2021}
}