非均匀吸积盘的X射线反射：I. 玩具模型与光子涡流

数值模拟显示，辐射支配型吸积盘内部可产生显著的密度不均匀性。我们在此首次报告对此类异构密度结构X射线反射光谱研究的成果。我们考虑两种情况：首先，我们制造了若干玩具模型，其中在均匀 slab 的不同深度处放置密度的尖锐变化或减小，变化宽度可变。将所得反射光谱与未受影响的 slab 的反射光谱进行比较，发现不均匀性可影响辐射特征，特别是Fe K线与O VIII Lyalpha线。差异的大小取决于密度变化的参数以及照射辐射的能量，但要求不均匀性位于约2次普朗克深度的表面附近才会产生影响。然而，仅需少量密度变化（约几倍）即可实现显著的反射特征变化。我们的第二种测试是计算来自脉冲涡流不稳定性非线性结果预测的密度结构的反射光谱。所得光谱也与恒定密度模型存在差异，主要由强烈的6.7 keV铁线引起。尽管如此，在2至10 keV范围内，恒定密度模型可提供较好的拟合，尽管反射比例较低。在2 keV以下，预测的软X射线线发射差异导致与恒定密度已 ionized 吸积盘模型拟合效果极差。结果表明，密度不均匀性可能进一步复杂化Fe K等效宽度与X射线连续辐射之间的关系。