基于菲涅耳波带片的自旋波聚焦X射线显微术
介观与纳米尺度物理
2020-07-22 v1
摘要
磁子学（即自旋波的人工调控）是一个蓬勃发展的研究领域，在数据处理方面有许多潜在应用。除了技术应用外，直接影响和观察这类波的可能性对基础研究也极具兴趣。此前已展示过自旋波的引导和操控，并实现了横向自旋波限制。然而，同时具有横向限制和振幅增大的真正自旋波聚焦此前尚未被展示。在此，我们通过实现菲涅耳波带片型透镜，首次展示了自旋波聚焦。利用X射线显微术，我们能够直接成像自旋波传播进入纳米尺寸焦点的过程。此外，我们观察到焦斑可通过偏置场的微小变化在大区域内自由移动。因此，这类透镜提供了一种可操控的强纳米尺寸自旋波源。潜在地，这可用于以可操控自旋波束选择性地照射磁子器件如纳米振荡器。
引用
@article{arxiv.1707.03664,
title = {X-Ray Microscopy of Spin Wave Focusing using a Fresnel Zone Plate},
author = {Joachim Gräfe and Martin Decker and Kahraman Keskinbora and Matthias Noske and Przemysław Gawronski and Hermann Stoll and Christian H. Back and Eberhard J. Goering and Gisela Schütz},
journal= {arXiv preprint arXiv:1707.03664},
year = {2020}
}