通过激光光电子发射以亚毫电子伏精度观测功函数
材料科学
2020-09-22 v1
摘要
电子发射可用于测量表面的功函数。然而，通过热电子发射、场发射和光发射技术所获得数值的有效数字通常仅为两到三位。本文表明，当应用角分辨光电子能谱（ARPES）时，有效数字可增至五位。这归因于 ARPES 能够探测仅沿表面法线方向发射的最慢光电子。通过使用激光光源，我们针对慢光电子优化了装置，并分辨出 Au(111) 的最慢端截止边，其锐利度未受光带宽或费米-狄拉克分布的影响而劣化。功函数在至少 30 至 90 K 范围内稳定在 ±0.4 meV 以内，且表面老化表现为功函数的毫电子伏级偏移。我们的研究开启了针对功函数第五位有效数字的探究。
引用
@article{arxiv.2009.09765,
title = {Work function seen with sub-meV precision through laser photoemission},
author = {Y. Ishida and J. K. Jung and M. S. Kim and J. Kwon and Y. S. Kim and D. Chung and I. Song and C. Kim and T. Otsu and Y. Kobayashi},
journal= {arXiv preprint arXiv:2009.09765},
year = {2020}
}
备注
For an associated blog-type posting, see https://devicematerialscommunity.nature.com/posts/measuring-the-work-function-precisely-by-using-laser-arpes