来自直接、间接暗物质探测实验及对撞机的 WIMP 质量：一种互补且与模型无关的方法

我们研究了从直接（XENON100）和间接（GLAST）探测实验中识别暗物质性质的可能性。同样，我们考察了下一代对撞机（ILC）提供的展望。所有这些分析均遵循与模型无关的方法。我们表明，这三种探测技术可以高度互补地发挥作用。直接探测实验将有效地探测轻质量 WIMP，在给定正探测（对于 $m_{\chi} \sim 50$ GeV 为 10% 水平）的情况下，GLAST 将能够确认并在 NFW 分布情形下提高精度，前提是 WIMP - 核子截面 $\sigma_{\chi-p}<10^{-8}$ pb。然而，对于较重 WIMP（$\sim 175$ GeV），ILC 将主导质量的重建。