轻子生成何时能经受住轻子味破坏约束？Scotogenic 模型中高标度与低标度的实现

我们研究了最小 Scotogenic 模型中轻子味破坏（LFV）与轻子生成之间的相互作用，并在统一的 Casas--Ibarra 框架内比较了高标度分层轻子生成与低标度共振轻子生成。由于相同的 Yukawa 耦合同时支配辐射中微子质量产生、带电轻子味破坏过程以及重子生成所需的 CP 不对称性，因此产生了强烈的唯象关联。我们表明，由于轻子味破坏与重子生成之间的有效退耦，高标度轻子生成自然保持可行性，而低标度共振轻子生成则受到 MEG 对 $\mu \rightarrow e\gamma$ 限制的强烈约束。尽管如此，我们确定了一个狭窄但非零的共振窗口，在此窗口内，成功的重子生成、受控的洗出效应和轻子味破坏安全性可以同时共存。特别是，我们获得了完全允许的基准点，其特征为准简并的重费米子、共振增强的 CP 不对称性以及通过 Casas–Ibarra 相位对齐实现的味破坏抑制。