聚合物:富勒烯体异质结的电压依赖微分电导(dI/dV)成像
介观与纳米尺度物理
2017-09-11 v1
摘要
利用扫描隧道谱（STS），我们探测了 P3HT:PCBM 体异质结（BHJs）的微分电导（dI/dV）图像。由于在 dI/dV 图像中从能量上可看到材料，该成像过程提供了观察 BHJ 中组分的纳米域的机会。在不同电压下记录图像，以突出两种材料之间的界面区域。原始材料的态密度（DOS）谱提供了聚合物和富勒烯在形成能带图时的能级位置，从电荷载流子视角看为 II 型排列。在 P3HT:PCBM 异质结中记录的 DOS 谱还产生了偏离组分那些能量的能量，表明界面区域能带弯曲。
引用
@article{arxiv.1709.02548,
title = {Voltage-Dependent Differential Conductance (dI/dV) Imaging of a Polymer:Fullerene Bulk-Heterojunction},
author = {Goutam Paul and Biswajit Kundu and Amlan J. Pal},
journal= {arXiv preprint arXiv:1709.02548},
year = {2017}
}
备注
15 pages, 5 figures; submitted to a journal; includes Supplementary information in the form of two videos (9 MB each) which are available with the authors