利用透射式微波阻抗显微镜可视化表面声波电势
介观与纳米尺度物理
2018-06-25 v1
摘要
在压电材料中传播的弹性波伴随有随时间变化的电势，这对声电子应用至关重要。在微波频率下对此类电势进行空间成像颇具挑战，因为其特征长度尺度由数微米的声波长决定。本工作中，我们报道了利用透射式微波阻抗显微镜 (T-MIM) 对铁电样品上表面声波 (SAWs) 的可视化。由叉指换能器发射的 SAW 电势被探针探测，并由微波电子学解调为与时间无关的空间图样。干涉与衍射等波动现象被成像，结果与理论分析高度吻合。我们的工作为以空间分辨方式研究各类机电器件开辟了新途径。
引用
@article{arxiv.1805.07421,
title = {Visualization of Surface-acoustic-wave Potential by Transmission-mode Microwave Impedance Microscopy},
author = {Lu Zheng and Di Wu and Xiaoyu Wu and Keji Lai},
journal= {arXiv preprint arXiv:1805.07421},
year = {2018}
}