利用技术噪声通过虚弱值提高信噪比
量子物理
2014-07-16 v2 数据分析、统计与概率
摘要
本文讨论了弱测量，特别是虚弱值测量在精度提升方面的优势。考虑了测量装置的初始态在每次运行中随机变化的情况，并表明当使用虚弱值时，这实际上是有益的。该结果得到了数值计算的支持，同时也为近期一些实验结果中技术噪声的降低提供了解释。此外，还建立了与量子计量学形式体系的联系。
引用
@article{arxiv.1111.5523,
title = {Using technical noise to increase the signal-to-noise ratio, via imaginary weak values},
author = {Yaron Kedem},
journal= {arXiv preprint arXiv:1111.5523},
year = {2014}
}
备注
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