揭示中微子质量：来自稳健 (e)BOSS 数据分析的见解及 DESI 与未来展望

近期结合 DESI BAO 与 Planck CMB 数据的观测结果，对中微子总质量设定了 $\sum m_\nu < 0.072\, \text{eV}$ 的上限（95% 置信水平），排除了反序能级。事实上，依赖宇宙背景膨胀的方法往往会得出负的中微子质量。在本工作中，我们为利用宇宙学探针精确限制中微子质量的探索做出贡献。通过对 BOSS、eBOSS 以及合成功率谱数据进行全形分析，我们展示了投影效应会显著影响对中微子质量的限制，导致这些测量在很大程度上不可靠。我们的结果强调需要更好的技术来准确测量中微子质量。基于大尺度结构的抑制效应，我们在全形分析中识别出了一个关键的盲点。通过将星系功率谱分解为宽带和振荡分量，我们注意到关于中微子质量的信息主要是从受抑制的振荡分量中提取的，而非宽带抑制。这为开发仅基于功率谱振荡分量的替代方法开辟了可能，这些方法可能比严重依赖背景演化的方法更为稳健。