具有平顶噪声与准周期振荡的极亮X射线源

我们分析了五个极亮X射线源（ULXs）NGC5408 X-1、NGC6946 X-1、M82 X-1、NGC1313 X-1和IC342 X-1的X射线功率密度谱，它们是仅有的同时显示平顶噪声（FTN）与准周期振荡（QPO）的ULXs。我们研究了QPO频率、分数均方根（rms）变率、X射线光度与谱硬度。我们发现FTN的幅度与QPO频率反相关。随着QPO频率与源亮度的增加，其分数变率减小。我们提出一种简单解释，以球化半径、黏滞时间与$\alpha$参数作为这些系统的基本属性。所观测变率的主要物理驱动因素是吸积率，其在同一源的不同观测间变化大于3倍。随着吸积率减小，球化半径减小且FTN与QPO移向更高频率，导致分数rms变率减小。我们还提出，在所有ULXs中，当吸积率足够低（但仍为超爱丁顿）时，QPO与FTN消失。假设最大X射线光度仅依赖于黑洞（BH）质量而不依赖于吸积率（不考虑超爱丁顿盘倾角或辐射的几何束流效应），我们估计所有ULXs具有大致相近的BH质量，除M82 X-1外，其质量可能大10倍。