超快微扰映射作为多端口光子器件测试的定量工具
光学
2018-06-13 v2 介观与纳米尺度物理
摘要
先进的光子探测技术对于光子芯片的非接触晶圆级测试的发展极为重要。超快光调制已被认为是一种强大的新工具，能够通过扫描微扰远程映射光子器件。在此，我们通过一种基于 Lorentz 互易性的通用且严格的方法将光调制映射发展为定量技术，该方法能以高精度和最小计算成本预测任意线性光子系统的透射率微扰映射。针对各类光学多模干涉器件，预测与实验映射之间取得了极佳一致，从而允许将待测器件与理想设计结构的物理模型直接比较。除了构成光子制造中光学测试的一条有前景途径外，超快微扰映射还可用于具有可重构功能的光子结构的设计优化。
引用
@article{arxiv.1802.06600,
title = {Ultrafast perturbation maps as a quantitative tool for testing of multi-port photonic devices},
author = {Kevin Vynck and Nicholas J. Dinsdale and Bigeng Chen and Roman Bruck and Ali Z. Khokhar and Scott A. Reynolds and Lee Crudgington and David J. Thomson and Graham T. Reed and Philippe Lalanne and Otto L. Muskens},
journal= {arXiv preprint arXiv:1802.06600},
year = {2018}
}