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用于存内计算应用的具有堆叠无结纳米线的超高密度 3D 垂直 RRAM

应用物理 2020-12-02 v1 新兴技术

摘要

冯·诺依曼瓶颈是数据密集型应用的明显限制,使存内计算(IMC)方案受到关注。由于大型数据集通常存储于非易失性存储器(NVM)中,已提出多种基于新兴存储器的方案,如 OxRAM,其主要依赖占用面积大的单晶体管(1T)单 OxRAM(1R)位元。为解决该面积问题,同时保持 1T1R 位元所提供的编程控制,我们提出将环绕栅极堆叠无结纳米线(1JL)与 OxRAM(1R)技术结合,以创建超高密度的 3D 存储柱。我们制备、表征并仿真了纳米线无结晶体管,以确定整个存储柱的电流条件。最后,基于集成电路强调仿真程序(SPICE)仿真,我们成功演示了多达三层存储柱的搜索逻辑操作,每层一个操作数。

关键词

引用

@article{arxiv.2012.00061,
  title  = {Ultra-High-density 3D vertical RRAM with stacked JunctionLess nanowires for In-Memory-Computing applications},
  author = {M. Ezzadeen and D. Bosch and B. Giraud and S. Barraud and J. -P. Noel and D. Lattard and J. Lacord and J. -M. Portal and F. Andrieu},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2012.00061},
  year   = {2020}
}