双电子层重联模型：联动的日冕消磁和质量抛射事件

我们进行时变电阻性磁流体动力学模拟，以研究由磁重联引发的流体绳抛射事件，这与共存的日冕消磁-质量抛射（CME）事件有关。采用最近一次对流体绳系统双灾难分析得到的早期结果作为初始条件，其中孤立的流体绳与两个电子层共存：一个垂直电子层位于流体绳下方，一个横向电子层位于流体绳上方。当电子层发生磁重联时，流体绳抛射，流体绳动力学取决于两个电子层的重联顺序。讨论三种情况：(1) 两个电子层同时发生重联，(2) 先在横向电子层后在垂直电子层重联，(3) 顺序与情况2相反。这种双电子层重联同时具有CME启动的磁破裂特征和标准日冕模型特征。我们认为，破裂式和羁绊切割式重联都可能对CME抛射及其相关表面活动具有重要作用。