双色自旋噪声谱学：利用自旋涨落相关性揭示量子点系综内的均匀线宽

“自旋噪声谱学”（SNS）是一种强大的光学技术，用于探测电子和空穴的自旋动力学，其基础是在热平衡状态下检测其内在且随机的涨落，这一方法由涨落 - 耗散定理保证。由于 SNS 测量的是涨落特性而非常规响应函数，我们表明在多探针噪声研究中可以利用涨落相关性来揭示通常无法通过常规线性光学光谱学获取的信息，例如非均匀展宽系统内各个组分的潜在均匀线宽。这在单电荷 (In,Ga)As 量子点系综中通过使用两束弱探针激光得到了演示：当两束激光具有相同波长时，它们对系综中相同的量子点敏感，且其自旋涨落信号是相关的。相比之下，两束彼此大幅失谐的探针激光测量的是不同的量子点子集，导致涨落不相关。通过测量噪声相关性与激光失谐的关系，即使在存在强非均匀展宽的情况下，也能直接揭示量子点的均匀线宽。这种基于噪声的相关技术不仅限于半导体自旋系统，还可广泛应用于任何可测量内在涨落的系统。