采用混合探测方案的孪生光束亚散粒噪声光栅扫描显微镜
量子物理
2019-06-14 v1
摘要
通过利用光的量子化特性，我们展示了一种亚散粒噪声扫描光学透射显微镜。我们的显微镜以微米级分辨率证明，在相同光功率下，相对于最优经典版本，每个探测光子在透射率估计上的精度提升因子为 1.76(9)。这将使我们能够以近两倍的精度观察光敏样品，且不牺牲图像分辨率或增加光功率以改善信噪比。我们的装置使用由参量下转换产生的关联孪生光束，以及由基于光子计数的前馈和高效 CCD 相机组成的混合探测方案。
引用
@article{arxiv.1906.05331,
title = {Twin-beam sub-shot-noise raster-scanning microscope with a hybrid detection scheme},
author = {J. Sabines-Chesterking and A. R. McMillan and P. A. Moreau and S. K. Joshi and S. Knauer and E. Johnston and J. G. Rarity and J. C. F. Matthews},
journal= {arXiv preprint arXiv:1906.05331},
year = {2019}
}