紧束缚结中的隧穿电导与局域态密度
超导电性
2011-10-13 v2 介观与纳米尺度物理
摘要
我们研究了紧束缚隧穿结中微分电导与局域态密度之间的关系，其中结的几何形状可以在点接触极限和平面接触极限之间变化。发现这两种极限情况下的电导存在显著差异。我们还研究了矩阵元如何影响隧穿特性，并在扫描隧道显微镜（STM）的简单模型中产生对比度。讨论了关于铜氧化物中 STM 光谱数据解释的一些启示。计算是在实空间 Keldysh 形式体系内进行的。
引用
@article{arxiv.1102.3895,
title = {Tunneling conductance and local density of states in tight-binding junctions},
author = {C. Berthod and T. Giamarchi},
journal= {arXiv preprint arXiv:1102.3895},
year = {2011}
}
备注
Published version