三部分纠缠见证与突然死亡

我探索了三量子比特系统中的纠缠动力学，比较了纠缠见证探测三部分纠缠的能力与纠缠突然死亡（ESD）现象。利用一个受退相干影响的系统，我调用纠缠见证来探测三部分 GHZ 和 W 型纠缠，并将其探测能力的演化与 negativity、二部分 concurrence 以及三部分 negativity 的演化进行了比较。有趣的是，我发现了一个没有 concurrence 或三部分 negativity 但却存在纠缠的状态。最后，我利用三量子比特量子纠错（QEC）码来探讨 ESD 如何影响量子纠错的能力。