Fluxonium 量子比特中泄漏与纯退相干误差之间的权衡
量子物理
2013-10-01 v2 介观与纳米尺度物理
摘要
我们提出了 Fluxonium 电路中泄漏误差与纯退相干误差之间的权衡关系。我们表明，在绝缘机制下，即当流经电路的持续电流受到抑制时，纯退相干率随电路阻抗的增加呈指数下降。与这种指数下降形成对比的是，量子比特仍保持足够的非谐性，使得门操作时间可以保持较短，从而显著降低计算误差率。
引用
@article{arxiv.1212.4557,
title = {Tradeoff between Leakage and Dephasing Errors in the Fluxonium Qubit},
author = {David A. Herrera-Martí and Ahsan Nazir and Sean D. Barrett},
journal= {arXiv preprint arXiv:1212.4557},
year = {2013}
}
备注
6 pages, 5 figures