远端等温湍流屏幕的衰减效应
天体物理学
2009-11-10 v2
摘要
我们详细分析了等温湍流远端前景尘埃屏的衰减效应。该衰减曲线由两个参数决定，即绝对相对衰减比 R^A_V=A_V/E(B-V) 和绝对衰减 A_V。我们定量地表明，这两个可观测量如何取决于局部密度的统计属性以及均值衰减 <A_V>，以及随以最大湍流尺度为单位的屏幕厚度的变化。与均匀尘埃屏相比，湍流介质中的衰减特征为更高的透明度和更平坦的衰减曲线。一般而言，湍流介质对衰减的影响随切片厚度而增大。在厚薄切片的极限情况下（通常大于最大湍流尺度），R^A_V 渐近地趋于一个最大值。
引用
@article{arxiv.astro-ph/0412566,
title = {Tracing the Warm Hot Intergalactic Medium in the local Universe},
author = {M. Viel and E. Branchini and R. Cen and J. P. Ostriker and S. Matarrese and P. Mazzotta and B. Tully},
journal= {arXiv preprint arXiv:astro-ph/0412566},
year = {2009}
}
备注
16 pages 11 Figures. Discussion clarified, alternative methods proposed. Results unchanged. MNRAS in press