利用谱线强度映射进行多示踪剂中微子质量测量

精确测定中微子质量是当代宇宙学的一个主要目标。由于大质量中微子影响结构形成和演化，大尺度结构的探针对中微子质量总和敏感。在这项工作中，我们利用谱线强度映射（LIM）作为一种有前景的新兴宇宙密度探针，以精细结构[CII]线为例，探索了对$\sum m_\nu$的未来约束，并将这些约束与来自传统星系巡天的约束进行了比较。此外，我们利用速度层析成像，通过动力学Sunyaev-Zeldovich效应和移动透镜效应重建三维速度场，进行了多示踪剂分析。我们的预测表明，下一代AtLAST探测器本身可以达到$\sigma_{\Sigma m_\nu} \sim 50$ meV的灵敏度。速度层析成像将使这些约束进一步提高4%。将CMB-S4和DESI-BAO的预测纳入全面的多示踪剂分析，同时利用21厘米预测观测结果对再电离光深$\tau$设定先验以打破简并，我们发现，在正常质量排序下，利用LIM对$\sum m_\nu\!\sim\! 60$ meV实现$\gtrsim5\sigma$的探测是触手可及的。即使没有$\tau$先验，我们的联合预测也能达到$\sigma_{\Sigma m_\nu} \!\sim\! 18$ meV。