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随机定位采样的全变差保证

机器学习 2026-04-01 v1 概率论

摘要

受基于分数的生成模型成功的启发,最近提出了多种基于扩散的算法,用于从未归一化密度可访问的概率测度中采样。其中,Grenioux等人引入了SLIPS,一种基于随机定位的采样算法。虽然SLIPS表现出强大的经验性能,但此前尚未提供严格的收敛分析。在本文中,我们通过建立SLIPS在全变差距离上的首个保证来填补这一空白。在对目标的最小假设下,我们的上界意味着达到 ε\varepsilon 保证所需的步数随维度线性增长,至多相差对数因子。该分析利用了基于分数的生成模型理论中的技术,并进一步提供了关于经验上观测到的离散化点最优选择的理论见解。

关键词

引用

@article{arxiv.2603.29555,
  title  = {Total Variation Guarantees for Sampling with Stochastic Localization},
  author = {Jakob Kellermann},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2603.29555},
  year   = {2026}
}

备注

12 pages main body, 13 pages Appendix