利用表面 X 射线衍射研究石墨烯/Ir(111) 莫尔条纹的形貌
材料科学
2015-06-25 v1
摘要
已在生长室中通过包含镜面杆的表面 X 射线衍射对 Ir(111) 上石墨烯单层的结进行了原位（{\it in situ}）研究，这使得能够将样品粗糙度的影响与石墨烯和铱沿石墨烯和 Ir(111) 之间类莫尔（moir{\'e}）图案的纳米波纹的影响分离开来。据此，我们能够提供与这种纳米波纹相关的波动的精确估计，在该弱相互作用的石墨烯/金属系统中这种波动很小，因此过去难以评估。发现石墨烯和铱的纳米波纹同相，即它们高度极大的面内位置重合，但石墨烯的高度调制幅度（ \AA）比最顶层 Ir 层（ \AA）的幅度大得多。平均石墨烯-铱距离被发现为 \AA。
引用
@article{arxiv.1506.07492,
title = {Topography of the graphene/Ir(111) moir{\'e} studied by surface x-ray diffraction},
author = {Fabien Jean and Tao Zhou and Nils Blanc and Roberto Felici and Johann Coraux and Gilles Renaud},
journal= {arXiv preprint arXiv:1506.07492},
year = {2015}
}