ULX脉冲星的计时特性：光学厚包层与外流

近期发现一部分超亮X射线源（ULXs）表现出X射线脉冲，因此由磁化中子星（NSs）上的超爱丁顿吸积所驱动。对于典型的ULX质量吸积率（$\gtrsim 10^{19}\,{\rm g\,s^{-1}}$），吸积盘内区预期处于超临界状态，意味着部分物质从盘表面发出的风中损失，其余部分沿磁场线从内盘半径流向恒星磁极，在NS周围形成光学厚包层。该包层对远处观测者隐藏了中心天体，并决定了ULX脉冲星的关键观测性质：能谱、偏振与计时特征。包层的光学厚度受盘物质损失的影响。我们计算了ULX脉冲星中由风导致的质量损失率，考虑了NS磁场强度与盘中的平流过程。我们认为，探测到ULX脉冲星的强外流可视为NS磁场偶极分量相对较弱的证据。我们估算了质量损失对包层光学厚度的影响，并分析了包层如何影响ULX中的宽带非周期变率。我们表明，高频傅里叶频率上的亮度涨落可由包层中的多次散射强烈抑制，且抑制强度由质量吸积率与磁层几何尺寸决定。