CeO$_{2-x}$纳米晶体的三维价态映射
材料科学
2014-07-10 v2
摘要
结合高分辨率空间分辨电子能量损失谱与电子断层扫描技术，我们能够绘制 CeO纳米晶体中 Ce 离子的价态分布图。我们的三维结果显示，氧化铈纳米颗粒表面存在明显的晶面依赖性还原壳层；{111} 表面晶面表现出较低的表面还原度，而在{001} 表面晶面，铈离子更有可能在更大的表面壳层范围内被还原。这种通用断层扫描技术的创新之处在于，它允许重构包含每个体素中完整电子能量损失谱的全三维数据立方体。能够从重构数据立方体的每个点提取电子能量损失谱，使得对价态、化学成分、氧配位或键长等多种材料特定物理性质进行三维调查成为可能。这些实验将激发具有改进性能的纳米材料的合成，以及具有新功能的纳米结构的设计。
引用
@article{arxiv.1407.2016,
title = {Three dimensional valency mapping in CeO$_{2-x}$ nanocrystals},
author = {Bart Goris and Stuart Turner and Sara Bals and Gustaaf Van Tendeloo},
journal= {arXiv preprint arXiv:1407.2016},
year = {2014}
}