通过偏振分析对单个荧光纳米发射体的三维取向测量
光学
2015-04-20 v2
摘要
我们从理论和实验上证明，单个荧光纳米发射体的三维取向可以通过对发射光的偏振分析来确定（而激发偏振分析仅提供面内取向）。通过偏振测量确定发射体取向需要一种理论描述，包括物镜数值孔径、发射偶极子的 1D 或 2D 特性以及偶极子附近的环境。我们建立了一个涵盖大多数实验相关显微成像配置的模型，并提供了对取向测量有用的解析关系。我们对高质量的核壳 CdSe/CdS 纳米晶体进行了偏振测量，证明它们可以近似为两个正交的简并偶极子。最后，我们表明，即使偶极子位于金膜附近，也可以通过偏振测量推断其取向，而在这种情况下，成熟的离焦显微技术并不适用。
引用
@article{arxiv.1301.4063,
title = {Three-dimensional orientation measurement of a single fluorescent nanoemitter by polarization analysis},
author = {Clotilde Lethiec and Julien Laverdant and Henri Vallon and Clémentine Javaux and Benoît Dubertret and Jean-Marc Frigerio and Catherine Schwob and Laurent Coolen and Agnès Maître},
journal= {arXiv preprint arXiv:1301.4063},
year = {2015}
}