基于光声技术的硅纳米结构热性质研究
介观与纳米尺度物理
2020-12-03 v1 材料科学
应用物理
摘要
提出了一种采用压电检测的光声方法，用于同时评估热物理特性。该方法基于设置额外的热沉以重新分布沉积在样品表面的热流。首先，该方法在具有明确形貌和已被充分研究的特性的多孔硅上进行了测试。然后，通过数值模拟恢复实验数据，研究了硅纳米线阵列的热容和导热系数。观察到样品的热容和有效导热系数随样品厚度和孔隙率增加而降低。这种行为可能是由结构异质性的增加引起的。特别是，这可能与厚层蚀刻过程中出现的更大无序（断裂纳米线密度增加和孔隙率增大）有关。
引用
@article{arxiv.2012.01258,
title = {Thermal properties study of silicon nanostructures by photoacoustic techniques},
author = {K. Dubyk and T. Nychyporuk and V. Lysenko and K. Termentzidis and G. Castanet and F. Lemoine and D. Lacroix and Mykola Isaiev},
journal= {arXiv preprint arXiv:2012.01258},
year = {2020}
}