移动与嵌入式系统辐射冷却的理论分析
其他计算机科学
2015-12-17 v2
摘要
本文引入了一种新的全局解析模型，用于描述被动冷却嵌入式系统中发生的热耗散过程，并明确了传统假设（即指数冷却定律适用于此类情境）在何种情况下成立。由于微处理器的功耗和可靠性高度依赖于温度，管理单元需要精确的热模型。指数冷却模型对于主动冷却系统是合理的。在此，我们分析了受辐射和对流冷却以及内部热生成影响的被动冷却物体的冷却定律的可处理性。随后聚焦于类嵌入式系统物体，我们比较了新被动冷却定律与常规使用的指数定律之间的性能差异。我们表明，对于约 1\,dm 或更大的准等温冷却表面，辐射冷却效应可能与对流冷却效应相当。换言之，对于冷却表面积大于约 1\,dm 的系统，辐射变得不可忽略。否则，对于小于 1\,dm 的表面，我们表明精确解与指数冷却定律之间的差异变得微不足道。在缺乏精确温度测量的情况下，研究表明指数冷却模型对于小型片上系统 (SoC) 等需要低处理开销的系统而言足够准确。
引用
@article{arxiv.1410.0628,
title = {Theoretical Analysis of Radiative Cooling for Mobile and Embedded Systems},
author = {Karel De Vogeleer and Gerard Memmi and Pierre Jouvelot and Fabien Coelho},
journal= {arXiv preprint arXiv:1410.0628},
year = {2015}
}