早期B → ρπ衰变数据的应用

本文回顾了$B^0(\bar B^0) \to \rho \pi \to \pi^+ \pi^- \pi^0$衰变的Dalitz图分析。我们讨论了从无标记和带标记的时间积分数据中可以了解到关于此分析中十个参数的哪些信息。我们发现，除了有趣的CP破坏量$\alpha$这一重要例外，这些参数可以从该数据样本中确定——因此，它们可以在CLEO以及不对称B工厂进行测量。这表明，从时间依赖数据样本中提取$\alpha$所需的数据样本量可以更小（因此也更快），而如果所有十个参数都仅从该时间依赖数据样本中获得，则需要更大的数据样本。我们还探讨了真实角度$\alpha$与仅从带电$\rho$末态测得角度之间偏移的界限。这些界限可以在描述中性$\rho$道参数（预计很小）的测量之前获得。