Swift X 射线望远镜星系团巡天 II：X 射线光谱分析

(摘要删节) 我们展示了对一个新的、流量受限的 72 个 X 射线选源星系团样本的光谱分析，这些星系团由 Swift 卫星搭载的 X 射线望远镜 (XRT) 识别，流量下限约为~10-14 erg/s/cm2 (SWXCS, Tundo et al. 2012)。我们进行了详细的 X 射线光谱分析，旨在测量红移并表征星系团内介质 (ICM) 的性质。通过与 NED 交叉关联获得了光学对应体以及光谱或测光红移。额外的测光红移是通过 TNG 的专用后续观测计划以及与 SDSS 的交叉关联计算得出的。我们还在 35% 的样本中探测到了铁发射线，从而获得了稳健的 X 射线红移$z_X$测量值。当无法获得光学红移时，我们使用$z_X$。最后，对于所有已测量红移的源，使用 mekal 模型拟合扣除背景后的光谱。我们进行了广泛的光谱模拟，以推导一个经验公式来修正拟合偏差。随后使用经偏差校正值来研究 X 射线观测量的标度性质。总体而言，我们能够表征 46 个源的 ICM。该样本主要由温度在 3 到 10 keV 之间的星系团组成，另有 14 个温度低于 3 keV 的低质量星系团和星系群。红移分布峰值在$z\sim0.25$附近，延伸至$z\sim1$，其中 60% 的样本位于 0.1<$z$<0.4 范围内。我们推导了这 46 个源的光度 - 温度关系，发现与先前的研究吻合良好。SWXCS 样本的质量可与文献中其他样本相媲美，而那些样本是使用大得多的 X 射线望远镜获得的。我们的结果对未来 X 射线巡天望远镜的设计具有有趣的启示意义，这类望远镜的特点是在整个视场内具有良好的点扩散函数 (PSF) 和低背景。