偶然的外星系X射线源识别(SEXSI)计划：I.硬X射线样本的特征

偶然的外星系X射线源识别(SEXSI)计划旨在大幅扩展已识别的中等强度( $\sim 10^{-13} - 10^{-15} erg/cm2/s$ )硬X射线2-10 keV源的样本。SEXSI研究来自超过2平方度的源，为{\em Chandra}深场提供了 essential 的补充，这些深场的深度为$5 \times 10^{-16} erg/cm2/s$，但覆盖的总面积为$< 0.2$平方度。在本文中，我们描述了该调查的特征和我们的X射线数据分析方法。我们呈现了1034个硬X射线源的累积强度分布，并讨论了谱系硬度比的分布。我们的lognlogs在中间强度范围内与深场发现的lognlogs相连接，通过将数据集组合，我们限制了2-10 keV X射线背景中hard X射线人口的强度范围，其中微分计数数量变化斜率，以及从中可以推断的大部分2-10 keV X射线背景来源。我们进一步分别研究我们样本中软源和硬源的lognlogs分布，发现虽然软样本中看到明显的斜率变化，但最硬的源用单个幂律从最浅的强度向下描述，符合它们位于较低平均红移处的观察。