混合微分立体光谱成像的灵敏度

立体光谱成像是一种观测技术，能够同时在整個像平面上快速获取有限的光谱信息。来自望远镜的光被色散为多个光谱级次并分别成像，利用 (x,y,$\lambda$) 光谱数据空间与传统 (x,y,z) 三维空间之间的类比，将两个或更多色散图像组合起来。由于在图像获取过程中没有故意销毁光子，该技术在某些观测机制下比现有的扫描滤光片或扫描狭缝光谱成像等技术具有更高的光子效率。混合微分立体光谱学结合了传统的互相关立体光谱学和线性近似理论来提取光谱线的中心波长，已被用于在 617.34 nm Fe I 线中产生太阳 Stokes-V（视线方向）磁图；目前正使用更复杂的反演技术从在 30.4 nm 处 He-II 和 Si-XI 邻近谱线收集的日冕极紫外 (EUV) 图像中推导多普勒数据和谱线分离数据。在本文中，我们对混合微分立体光谱学导出的谱线位移信号中的噪声进行了分析性的先验处理。我们利用该分析估算了基于立体光谱成像的高分辨率太阳磁像仪中的噪声水平和测量精度，将这些估算值与 2003 年的一次测试观测进行了比较，并讨论了对未来仪器的启示。