MAC-E 型谱仪中电子在记录探测器上散射的作用
仪器与探测器
2016-07-20 v1 高能物理 - 实验
核实验
摘要
目前有一项提议，即利用“Troitsk nu-mass”装置在几 keV 质量范围内寻找惰性中微子。为了估计惰性中微子混合，需要利用现有的带有磁绝热准直的静电谱仪，即 MAC-E 滤波器，在远低于端点处进行精密能谱测量。预期的特征信号将是氚β衰变电子能谱中的扭折。本文考虑了电子在谱仪所用探测器上背散射的系统效应。为此，我们提供了一组在谱仪中真实电磁场下，电子在带有薄金窗的硅探测器上背散射的蒙特卡罗模拟结果。我们发现此类效应的概率高达 20-30%。散射电子可能被静电场或磁镜反射回探测器。此外，还有百分之几的概率通过入口逃逸出谱仪。在 Troitsk 谱仪中，探测器上的散射时刻与反射电子返回之间的时间延迟可达几微秒。此类估计对于规划探测器和记录电子学的升级至关重要。
引用
@article{arxiv.1511.06129,
title = {The role of electron scattering from registration detector in a MAC-E type spectrometer},
author = {P. V. Grigorieva and A. A. Nozik and V. S. Pantuev and A. K. Skasyrskaya},
journal= {arXiv preprint arXiv:1511.06129},
year = {2016}
}
备注
14 pages, 14 figures