AGN软X射线过量之谜：吸收还是反射？
天体物理学
2007-05-23 v1
摘要
AGN的2-10 keV 连续辐射 generally 由单一功率律良好描述。然而，在较低能量处，连续辐射显示出超出该功率律外推的过量，称为"软X射线过量"。直到目前，软X射线过量要么归因于硬X射线源通过盘状物反射产生，要么归因于存在额外的共轭化介质导致谱线趋于较陡。Gierlinski与Done（2004）提出的另一种解决方案是：单一功率律能很好地同时描述软和硬X射线辐射，软X射线过量的印象是由于原始功率律被相对论风暴吸收导致。我们检讨了反射模型与吸收模型的优缺点，结论是观测到的谱线可通过吸收模型（在强过量情况下）或反射模型（在弱过量情况下）良好拟合。然而，吸收模型所需的物理条件似乎并不十分现实：我们更倾向于一种"混合模型"。
引用
@article{arxiv.astro-ph/0601464,
title = {The puzzle of the soft X-ray excess in AGN: absorption or reflection?},
author = {L. Chevallier and S. Collin and A. -M. Dumont and B. Czerny and M. Mouchet and A. C. Goncalves and R. W. Goosmann},
journal= {arXiv preprint arXiv:astro-ph/0601464},
year = {2007}
}
备注
4 pages, 3 figures, abstracts SF2A-2005, published by EDP-Sciences Conference Series