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用于无监督 3D 异常检测与定位的 MVTec 3D-AD 数据集

计算机视觉与模式识别 2022-02-25 v1

摘要

我们引入了首个用于无监督异常检测与定位任务的综合 3D 数据集。其灵感来源于现实世界的视觉检测场景,在这些场景中,模型必须检测出制成品上的各类缺陷,即使它仅在无异常数据上受过训练。有些缺陷表现为物体几何结构上的异常。这些缺陷会在数据的 3D 表示中引起显著偏差。我们采用高分辨率工业 3D 传感器获取了 10 个不同物体类别的深度扫描。对于所有物体类别,我们提供了一个训练集和一个验证集,每个集合仅包含无异常样本的扫描。相应的测试集包含显示各种缺陷(如划痕、凹痕、孔洞、污染或变形)的样本。我们为每个异常测试样本提供了精确的 ground-truth 标注。在我们数据集上进行的 3D 异常检测方法的初步基准测试表明,仍有相当大的改进空间。

关键词

引用

@article{arxiv.2112.09045,
  title  = {The MVTec 3D-AD Dataset for Unsupervised 3D Anomaly Detection and Localization},
  author = {Paul Bergmann and Xin Jin and David Sattlegger and Carsten Steger},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2112.09045},
  year   = {2022}
}

备注

Accepted for presentation at VISAPP 2022