活动星系核的长期X射线谱变异性

我们展示了来自10个活动星系核的超过7500个RXTE谱的谱分析结果，这些星系核已被RXTE在约7-11年的长时间内定期观测。这些观测很可能采样了这些天体所展现的大部分流量和谱变化，因此非常适合研究它们的长期X射线谱变异性。我们以统一的方式对每次观测的3-10 keV谱进行建模，使用简单的幂律模型（必要时添加高斯线和/或吸收边来模拟铁Kα发射/吸收特征），以一致地参数化观测到的X射线连续谱的形状。我们发现平均谱斜率与源光度或黑洞质量不相关，而与平均吸积率正相关。我们还确定了每个天体的（正）“谱斜率-流量”关系，其流量范围比以前更大。我们发现这种相关性在几乎所有天体中都是相似的。我们根据当前的谱变异性模型讨论了这种全局的“谱斜率-流量”趋势。我们考虑了：(i) 内禀变异性，例如预期来自康普顿化过程；(ii) 由单个吸收体吸收X射线引起的变异性，其电离参数与连续谱流量变化成比例变化；(iii) 由恒定反射分量和流量可变但形状恒定的内禀幂律分量叠加产生的变异性；以及 (iv) 由恒定反射分量和流量与形状均可变的内禀幂律分量叠加产生的变异性。我们的最终结论是，情景(iv)更好地描述了我们的结果。