中子星 X 射线双星 4U 1820$-$30 的演化射电喷流

持续明亮的超致密中子星低质量 X 射线双星 4U 1820$-$30 呈现出 $\sim$170 d 吸积周期，在高与低 X 射线模式之间演化，其中 3–10 keV X 射线通量变化达最高 $\approx 8$ 倍。该源通常处于软 X 射线谱态，但在低 X 射线模式下可能转变为硬态。在此，我们给出 4U 1820$-$30 在高与低 X 射线模式下的新观测与档案射电观测。对于在低模式下获取的射电观测，我们观测到平坦射电谱，与 4U 1820$-$30 发射致密射电喷流一致。然而，在高 X 射线模式期间，致密喷流被抑制且射电谱陡峭，与光学薄同步辐射一致。喷流辐射似乎在 X 射线光度 $L_{\rm X (3-10 keV)} \sim 3.5 \times 10^{37} (D/\rm{7.6 kpc})^{2}$ erg s$^{-1}$ 处发生转变。我们还发现低态射电谱无论 X 射线硬度如何均表现一致，意味着 4U 1820$-$30 中喷流抑制与吸积质量率之间存在联系，可能关乎内吸积盘或边界层的属性。