高红移矮星系中电离辐射的逃逸

高红移星系的紫外逃逸分数在宇宙再电离模型中起着关键作用。由于目前无法从观测中推断再电离时期的逃逸分数，我们必须依赖数值模拟。我们的目标是更好地约束高红移矮星系的逃逸分数，因为它们是最有可能负责宇宙再电离的源。我们采用包含矮星系演化重要物理过程真实处方的N体/SPH方法。这些模型通过辐射转移后处理来确定电离辐射的逃逸分数。我们进行参数研究以评估星系自旋参数、气体分数和形成红移的影响，并研究分辨率、源分布和局部气体清除等数值参数的重要性。我们发现，已形成旋转支持盘的高红移矮星系的紫外逃逸分数在1e-5到0.1之间。星系的质量和角动量是决定逃逸分数的最重要参数。我们将结果与先前的工作进行比较，并讨论了我们模型的不确定性。我们发现高红移矮星系的低逃逸分数被其高恒星含量所平衡，导致恒星的效率参数仅略低于宇宙再电离半解析模型所发现的值。因此我们得出结论，在初始星暴阶段之后，当气体已沉降到盘中时，矮星系在宇宙再电离中仍发挥着重要作用。