电弱手征拉格朗日量与扩展技术色理论中的CP破坏效应
高能物理 - 唯象学
2010-11-01 v2
摘要
我们估算了扩展技术色理论中CP破坏相互作用产生的WWγ和WWZ反常形状因子，并讨论了它们未来的实验可探测性。发现W玻色子的电偶极矩可高达O(10⁻²¹) e cm。我们将CP奇的WWγ和WWZ耦合与相应的CP破坏电弱手征拉格朗日量算符联系起来。估算得到技术色理论中中子和电子的电偶极矩分别高达O(10⁻²⁶) e cm和O(10⁻²⁹) e cm。我们还提出在t→b+W⁺衰变中观测到大的CP破坏技术色效应的可能性。
引用
@article{arxiv.hep-ph/9406416,
title = {The Electroweak Chiral Lagrangian and CP-Violating Effects in Technicolor Theories},
author = {Thomas Appelquist and Guo-Hong Wu},
journal= {arXiv preprint arXiv:hep-ph/9406416},
year = {2010}
}
备注
34 pages, YCTP-P9-94, LaTex. (minor changes in wording and notation, the figures are appended at the end as one postscript file)