在Tevatron上通过R宇称破坏检验辐射中微子质量产生机制

一个具有轻子数破坏耦合$\lambda'_{i33}$（i=2,3）的R宇称破坏SUSY模型可以产生中微子质量谱，从而解释中微子振荡实验的最新结果。这些R宇称破坏耦合导致一个清晰的信号，包含至少一个孤立轻子和至少三个标记的$b$喷注，该信号可在Tevatron对撞机的chargino和neutralino产生过程中被探测到。在积分亮度为$2 fb^{-1}$（$30 fb^{-1}$）时，该特征可在$3 \sigma$显著性下探测到$m_{1/2}$高达230 GeV（320 GeV）。