$\phi$ 辐射衰变中标量介子结构的检验

我们表明 $\phi$ 到标量介子 [$f_0$(975)、$a_0$(980)$\equiv S$] 的辐射衰变可提供关于这些介子内部结构的重要线索。辐射衰变宽度变化很大：依据子结构（$q\bar q$、$qq\bar q\bar q$、$K\bar K$、胶球）不同，分支比为 $10^{-4}-10^{-6}$。因此，可通过在未来 $\phi$ 工厂测量这些宽度来判别各种模型。理解这些介子结构不仅在强子谱学中有价值，而且在核物理中与广泛使用却甚少理解的 $\sigma$ 介子相关时亦具价值。我们还发现衰变 $\phi\rightarrow S\gamma \rightarrow K^0 \bar K^0\gamma$ 强度不足以对在 $\phi$ 工厂通过 $\phi\rightarrow K^0 \bar K^0$ 研究 CP 破坏构成显著本底问题。